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第七届国际电子测量与仪器研讨暨展览会
时间:2005/8/10 9:32:00  作者:  来源:ic72  浏览人数:1481
 
 

[展览日程]
报到布展:2005年8月17日-19日
开 幕 式:2005年8月17日
展览时间:2005年8月17日-19日
地  点:北京展览馆

【主办单位】
 中国电子学会
【支持单位】
 中国航空学会/中国兵工学会
【承办单位】
 
中国电子学会会展服务中心/北京东方茂源展览有限公司
【媒体支持】
 
东方集成网/电子测量与仪器学报/国外电子测量技术/兵器知识/中国航天/航空知识/现代雷达/国防技术工业/船舶工程/坦克装甲车辆/现代军事/中国电子商讯/今日电子/慧聪电子商情/电子资源/中国国防电子网/导弹与运载技术

[展会介绍]
    第六届国际电子测量与仪器学术研讨暨展览会(1CEMI’2003)得到国家自然科学基金会的资助。参会代表共330人,有11个国家和地区的学者发表了论文。包括美国、德国、俄国、韩国、俯萄牙、波兰、奥地利、意大利、台湾等。本届会议论文集中的论文全部由ISTP收录,并由EI部分收录。

    会议名誉主席为我国著名学者王大衍院士,德国汉诺威大学Mllller-Scllloer 教授、孙圣和教授(哈尔滨工业大学)。由太原理工大学谢克明教授担任会议主席,会议副主席为陈光裾教授(电子科技大学),马福昌教授(太原理工大学),赵玉莲教授(768厂)以及美国Hector Gutierrez教授,俄国Victor Patyucov教授,日本Kaoru Hirota教授、Hiroyuki Wakiwaka教授,意大利Mauriaio Caciotta教授,葡萄牙J.M.Dias.Pereira教授,韩国Soo-YoungLee教授,奥地利GertHoller教授等。

[展览范围]
 ◆ 诊断、测试与计算技术与产品:A/D,D/A变换,数据采集,校准、计量和表准,多芯片模块测试,混合信号测试,时间——频率及数据域测量,反射与传输测试,振动测试,压力、温度和湿度测试,电源测试,表面检测与分析,无损检测,故障建模、诊断及排除,PCB测试等。

 ◆ 仪器与测试系统技术与产品:传感器,卡式和模块仪器,智能仪器,虚拟仪器,医用电子测试仪器,非电子量参数测量仪器,自动测试系统,仪器总线技术等。

 ◆ 电磁兼容测试技术与产品:发射与抗扰度测试,测试场地,测试重复性等。

 ◆ 计算机控制与网络测试技术与产品:仪器与计算机的融合,接口技术,基于PC的仪器,数据存储技术,远程测控等。

 ◆ 软件工程与电子设计技术与产品:软件工程与驱动开发,嵌入式操作系统与软件,数据存储技术,远程测控等。

 ◆ 监测与控制技术与产品:大气与环境监测,无损检测,工业控制仪器仪表的设计等。

 ◆ 嵌入式系统、GPS通信与导航设备、军用电子元器件、航空电子、空中交通管制系统、火控系统、雷达系统、电子战设备、电子支援/情报/侦察系统、视景系统、激光及光电子产品、军用电源等。

 
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