科利登在IC China2006上展出SapphireD-10 |
| 时间：2006/9/8 8:50:00 作者： 来源：ic72网 浏览人数：769 |
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科利登系统有限公司 宣布：在苏州举办的第四年度中国国际集成电路产业展览暨研讨会上，科利登将展出其Sapphire D-10系统。IC China是半导体设备，材料和服务供应商的一个重要集会，同时也是加强在亚太及中国地区商业合作的极佳机会。
Sapphire™ D-10平台获得了由<<测试测量世界>>授予的”最佳测试奖”奖项，是一款革新的高产能多功能圆片和封装测试解决方案，特别为微控制器，无线基带，显示驱动及低成本消费类混合信号芯片测试市场的低成本需求而设计。她还能对应200Mbps的高速圆片测试市场，支持高度的并行测试。系统的采用模块化设计结构，可灵活配置，最多能支持768个数字通道，并配备高密度的模拟和混合信号仪器，而其成本只有竞争机型的一半左右。
科利登系统有限公司Sapphire D产品组(SDG)副总裁Larry Dibattista说：“高度紧凑的Sapphire D-10系统在同一平台上实现从桌面调试和特征分析系统到量产测试平台的所有功能，这一先进理念是科利登最先提出来的。另外，Sapphire D-10的功耗远远小于其它类似功能和特性的机型。Sapphire D-10结合了体积小，升级方便以及总体成本低等诸多优点，成为中国地区最具竞争力的测试解决方案。”
Sapphire D-10测试系统能迅速应对新产品以及多种类混合产品的测试，因而能保证客户快速地进行新产品开发，充分地利用工厂和实验室的测试仪资源。Sapphire D-10的开放式”即插即用”架构能提供10个通用的仪器插槽，这些插槽之间能够任意互换。这些通用插槽使得Sapphire D-10系统能非常方便地从工程验证系统升级为多site量产测试系统，或从数字测试系统转换为混合信号测试系统。
科利登公司将在中国苏州国际展览中心IC China展会 #A-13号展台展出其Sapphire D-10平台。
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